一、高低溫交變循環(huán)試驗箱技術(shù)參數(shù)：

二、高低溫交變循環(huán)試驗箱故障排除方法：

1.在高溫試驗中，如溫度變化達(dá)不到試驗溫度值時，可以檢查電器系統(tǒng)，逐一排除故障。如溫度升得很慢，就要查看風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，看一下風(fēng)循環(huán)的調(diào)節(jié)擋板是否開啟正常，反之，就檢查風(fēng)循環(huán)的電機運轉(zhuǎn)是否正常。如溫度過沖厲害那么就需要整定PID 的設(shè)置參數(shù)。如果溫度直接上升，過溫保護，那么，控制器出故障，須更換控制儀表。

2.低溫達(dá)不到試驗的指標(biāo)，那你就要觀察溫度的變化，是溫度降的很慢，還是溫度到一定值后溫度有回升的趨勢，前者就要檢查一下，做低溫試驗前是否將工作室烘干，使工作室保持干燥后再將試驗樣品放入工作室內(nèi)再做試驗，工作室內(nèi)的試驗樣品是否放置的過多，使工作室內(nèi)的風(fēng)不能充分循環(huán)，在排除上述原因后，就要考慮是否是制冷系統(tǒng)中的故障了，這樣就要請廠家的專業(yè)人員進行檢修。后者的現(xiàn)象是設(shè)備的使用環(huán)境不好所致，設(shè)備放置的環(huán)境溫度，放置的位置（箱體后與墻的距離）要滿足要求（在設(shè)備操作使用說明中都有規(guī)定）。

三、高低溫試驗箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

3. GJB150.3A－2009            高溫試驗方法

4. GJB150.4A－2009             低溫試驗方法

5. GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化

6. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認(rèn)

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件