一、高低溫沖擊試驗(yàn)箱操作流程：

1）一般來說，高低溫沖擊試驗(yàn)以時(shí)間長都為準(zhǔn)。

2)高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。

3)低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。

4)重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法,以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì)略有誤差。

5）恢復(fù)：試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

6）最后檢測：對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測結(jié)果評(píng)定。

二、高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

3. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

4. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

6.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

7.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

三、兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格簡介：

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于航天、、 艦船、電工、電子、儀器儀表；醫(yī)療器械；民用核能；高等院校；科研實(shí)驗(yàn)所；商檢仲裁、技術(shù)監(jiān)督部門；建材陶瓷；石油化工等產(chǎn)品、整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)

四、兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格技術(shù)參數(shù)：